Neu: FIZ Karlsruhe implementiert indische Patentvolltextdatenbank INFULL bei STN / Volltexte von indischen Patentanmeldungen und erteilten Patenten in englischer Sprache / Vortrag und Workshop auf der diesjährigen PATINFO vom 5.-7. Juni 2013 an der TU Ilmenau
Karlsruhe, Juni 2013 – Indien ist ein wichtiger Zukunftsmarkt. Wie bei allen neuen Märkten bestehen auch hier Risiken, z. B. für Unternehmen die Fu.E betreiben. Für sie ist der Schutz von Intellectual Property geschäftskritisch. Dementsprechend ist es von größter Bedeutung, diese Risiken durch zielgenaue Recherchen und erstklassige Informationen zu Patenten und Patentanmeldungen zu minimieren. Mit der neuen Patentvolltextdatenbank INFULL bei STN ermöglicht FIZ Karlsruhe Forschern, Entwicklern und Patentspezialisten den Zugriff auf umfassende indische Patentinformation. Das Informationsspektrum von INFULL umfasst den Stand der Technik, die Patentierbarkeit oder die freie Verwendung von Entwicklungen und Lizenzierungsmöglichkeiten; ermöglicht werden zudem Recherchen über die Verletzung eigener Patentrechte durch Dritte.
“Die neue Datenbank erschließt die indische Patentlandschaft. Diese wichtige Erweiterung von STN sichert die Wettbewerbsvorteile unserer Kunden auf einer noch breiteren Basis ab”, so Dr. Rainer Stuike-Prill, Bereichsleiter Marketing und Vertrieb bei FIZ Karlsruhe.
INFULL enthält derzeit über 444.000 englischsprachige Dokumente und über 120.000 Abbildungen. Sie deckt den Zeitraum von 1912 bis heute ab. Wöchentlich kommen ca. 500 neue Dokumente hinzu. Die Einträge enthalten bibliografische Daten, verschiedene Patentklassifikationen einschließlich der neuen CPC, Klassifikationscodes, Abstracts und den Volltext von Beschreibungen und Ansprüchen. Neue Dokumente sind ca. eine Woche nach Veröffentlichung vollständig verfügbar.
INFULL wird auf der diesjährigen PATINFO (vom 5.-7. Juni 2013 an der TU Ilmenau) vorgestellt, gemeinsam mit anderen wichtigen Datenbanken und Themen rund um STN, z. B. die neue STN-Plattform, präzise Recherchemöglichkeiten mit dem neuen CPC-Klassifikationssystem, asiatische Volltextdatenbanken, u. v. m. Ein spezieller Workshop ist dem Thema “Die Patent-Volltextdatenbanken auf STN – Mehrwert macht den Unterschied!” gewidmet und zeigt u. a. die Vorteile einer kombinierten Recherche von Volltext-Patentdatenbanken mit anderen bibliografischen Mehrwert-Patentdatenbanken wie Derwent WPISM und CAplusSM bei STN auf.
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